能源知識庫

重點摘述

這幾年矽晶太陽光電模組的電致衰減(Potential Induced Degradation,以下簡稱 PID)現象陸續發生在國外不同的戶外電廠上，最開始由SOLON公司在2010年歐洲太陽光電研討會發表一系列的研究結果顯示，模組陣列所產生的高電位造成的模組內部與邊框的電壓差，會對整個模組發電功率造成衰退。Sun Power公司研究發現電廠模組的高電位差會對模組產生極化也會對模組發電功率造成影響，之後陸續有許多國際的研究機構投入研究人力並發展出不同的PID測試方法。由於上述產生PID現象的模組大多通過模組的認證測試，也因此PID測試雖然尚未有IEC標準發布，但短時間的測試即可快速篩檢模組，因此成為國外許多融資的能力證明依據與部分海外市場指名的必測項目。

結論

在整個PID測試的議題上，已確認溼度比溫度更容易加速測試的結果，但是需要同時考慮到實際在戶外運作模組所處的環境，因此依據不同的安裝環境，設計適當的PID測試將可提供一個有效的壽命加速測試方法，驗證樣品的可靠度。國際IEC TC82 WG2雖已經開始起草相關標準，但每半年變化修訂改版的幅度都很大，因此廠商在投入相關測試、研究與滿足顧客端的需求時，應先確認試驗參數與方式。目前工研院已建置完整的PID測試系統兼具環境溫溼度控制能力，並依廠商不同測試需求提供不同試驗強度的PID測試，希望協助廠商早期評估用料，並作為爭取國外訂單的佐證資料，擴大海外國際市場。